热反射法薄膜导热系数测量仪

耐驰热反射法薄膜导热系数测量仪，基于超高速激光闪射系统，可测量基片上金属、陶瓷、聚合物薄膜的热物性参数，如：热扩散系数、导热系数、蓄热系数和界面热阻。由于激光闪射时间仅为纳秒（ns）量级，甚至可达到皮秒（ps）量级，此系统可测量厚度低至10nm 的薄膜。同时，系统提供不同的测量模式，以适应不同的基片情况（透明/ 不透明）。
内容摘要： TC 2000是在瞬态热线法测量导热系数技术的基础上开发出的探针法测量导热系数技术，目的是方便简洁的获取导热系数数据。TC 2000系列探针法导热系数仪，便于携带，用户仅需将探测器插入被测试样，通过简单的软件点击操作即能获得被测试样的导热系数，特别适用于野外作业和现场测量。
TC 2000广泛适用于能源、动力、石油、生物、食品、环境、地质等领域内材料的导热系数测量，可测量的材料包括但不限于松软块状固体、高粘流体、膏状物、胶体、颗粒、粉末等。
热反射法薄膜导热系数测量仪
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