植物冠层图像分析仪,冠层结构,受光状况分析

作物栽种过密，会导致田间郁闭，影响光合作用。解决树冠郁闭的关键所在是改善树冠内光照条件，解决叶幕层过厚引起树冠内部部分枝条光照不足、影响花芽分化和果品质量的问题。利用植物冠层图像分析仪可通过鱼眼镜头和CCD图像传感器获取冠层图像，进而利用软件分析冠层结构，并对分析数据进行计算。该仪器配有专用的分析软件，可对图像进行分区分析，并且是仅对有效图像区域进行分析。TOP-1300植物冠层图像分析仪可测量叶面积指数、叶片平均倾角以及植物群体冠层受光状况，仪器携带方便，可用于大田作物栽培现场进行测量。

功能特点：

1、无损测量叶面积指数、叶片平均倾角以及冠层结构。

2、探头体积小巧，装在测杠上可任意角度测量植物冠层结构。

3、摄像头可自动保持水平。

4、USB接口，测量时连接电脑实时查看图像，即时选取所需图像并保存。

5、外接大容量锂电池，适用于野外工作和长时间测量。

6、测量冠层不同高度，可得到群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图。

7、配有专用分析软件，有选择所需图像区域的功能（天顶角可分10区，方位角可分10区），可屏蔽不合理的冠层部分，仅对有效图像区域进行分析，使测量数据更加准确。

植物冠层图像分析仪 技术参数：

镜头角度：150°（特殊需求可自选180°镜头）

分 辨 率：768×494pix

测量范围：天顶角由0°～75°（可分割成十个区域）；方位角360°（可分割十个区域）

PAR感应范围：感应光谱400nm～ 700nm

测量范围：0～2000μmol/㎡·S

电    源：7.4V锂电池组

传输接口：USB

工作温度：0～55℃

产品详情：

植物冠层图像分析仪http://www.topzwsl.com/productShow_69.html

叶绿素测定仪http://www.topzwsl.com/